本页目录

电路 V · 存储器与存储墙

层次:本科核心 + 业界核心产业 | 部分内容【前沿,核对于 2026-07】。 逻辑再快,取不到数据也没用。存储器占据现代芯片的大部分面积(处理器中缓存常占一半以上),也是半导体产业规模最大的单一品类之一。本页讲三种主流存储的原理与各自的缩放困境,最后讲那堵越来越高的墙:存储墙

一、存储层次:一个被物理逼出来的结构

没有一种存储能同时做到快、大、便宜、非易失,所以只能分层:

层级 典型容量 访问延迟 每比特成本 易失性
寄存器 数百 B < 1 周期 极高 易失
SRAM(缓存) KB–数十 MB 1–40 周期 易失
DRAM(主存) GB ~200–400 周期 易失(需刷新)
NAND 闪存(SSD) TB ~10⁴–10⁵ 周期 非易失

每下一层,容量涨约三个数量级、延迟涨约两个数量级。整个计算机体系结构(缓存、预取、虚拟内存)都是为了掩盖这个层次差异而设计的(🔗 cs 站 CSAPP 存储层级、csapp-02)。本页提供那一层抽象之下的物理原因。

二、SRAM:快,但不再变小

6T 单元:两个交叉耦合的反相器构成双稳态锁存 + 两个访问管。

三个设计张力(全部围绕同一个矛盾):

静态噪声容限(SNM)衡量。问题在于:提高写能力要求访问管强,而提高读稳定性要求访问管弱——两者直接冲突,且在低压与大变异下同时恶化。这就是为什么 SRAM 往往是决定芯片最低工作电压(\(V_{min}\)的模块,也催生了 8T 等读写分离单元(用面积换稳定性)。

关键的产业事实:SRAM 面积缩放已显著放缓。 逻辑还在缩,SRAM 却几乎停滞——因为它对变异极其敏感(承第八页 Pelgrom:精度用面积买)。后果是缓存在芯片面积中占比越来越高,且成为先进节点成本上升的主要推手之一,这也强化了把缓存分离到单独裸片、用 3D 堆叠连接的动机(第十五页)。

三、DRAM:一个电容和它的漏电

1T1C 单元:一个晶体管 + 一个电容,用电容上有无电荷表示 1/0。

缩放困境:电容值不能随意减小(否则信号淹没在噪声里),于是电容被做成深槽或高柱的三维结构,深宽比极高(几十比一),制造难度巨大。DRAM 的缩放主要靠工艺极限突破,而非结构创新——这与逻辑器件的路径不同。

DRAM 工艺与逻辑工艺不兼容(需要特殊的电容与低漏电晶体管),所以DRAM 通常是独立芯片。这正是"存储墙"的物理起点:数据必须跨越封装、走上电路板才能到达处理器。

四、NAND 闪存:用可靠性换密度

浮栅/电荷俘获:在栅极中嵌入一个绝缘包围的电荷存储层,注入电荷改变 \(V_{th}\),从而记录信息。断电电荷仍在 → 非易失

三个关键性质

3D NAND 是一次范式转移:平面缩放走到尽头后,改为垂直堆叠(现已达数百层),用一次刻蚀打通所有层。"不再缩小,而是堆高"——这个思路后来蔓延到了整个行业(3D 集成、Chiplet,第十五页)。NAND 是第一个成功转向三维的大宗半导体产品,具有示范意义。

纠错是必需品而非可选项:现代 NAND 的原始误码率高到无法直接使用,必须依赖强大的 ECC(LDPC 等)。存储系统的可靠性是"用编码换来的"(🔗 cs 站/数学站信息论)。

五、存储墙

处理器性能的增长长期快于存储带宽与延迟的改善,两者差距持续扩大——这就是存储墙(memory wall)

今天的具体表现

应对手段(后面各页展开):

六、要点


线二结束。下一线转向制造:这些电路究竟是怎么被造出来的?从一块硅晶圆到几百亿个晶体管,中间是人类工业史上最精密的流程。